本發(fā)明涉及容錯(cuò)的失效保險(xiǎn)連接設(shè)備。本公開大體涉及在電源和負(fù)載之間串聯(lián)連接的不同外圍尺寸的多個(gè)固態(tài)開關(guān)。內(nèi)置測試電路感測在一個(gè)或多個(gè)不同外圍尺寸上的過電壓條件,并且根據(jù)多個(gè)固態(tài)開關(guān)的至少一個(gè)固態(tài)開關(guān)兩端的測量電壓打開或閉合所述一個(gè)或多個(gè)不同外圍尺寸。
聲明:
“容錯(cuò)的失效保險(xiǎn)連接設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)