本發(fā)明公開(kāi)了一種能夠模擬控制類(lèi)電子設(shè)備功能失效的毀傷等效靶，屬于毀傷測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，包括：與待模擬控制類(lèi)電子設(shè)備外殼結(jié)構(gòu)參數(shù)一致的等效外殼以及位于等效外殼中的供電模塊、狀態(tài)指示模塊、信號(hào)接收模塊和信號(hào)發(fā)送模塊；供電模塊向信號(hào)接收模塊、信號(hào)發(fā)送模塊和狀態(tài)指示模塊供電；信號(hào)發(fā)送模塊執(zhí)行向信號(hào)接收模塊持續(xù)發(fā)送信號(hào)的功能，以模擬待模擬控制類(lèi)電子設(shè)備內(nèi)部數(shù)據(jù)傳輸和處理功能；狀態(tài)指示模塊與信號(hào)發(fā)送模塊連接，根據(jù)收到的信號(hào)接收模塊的信號(hào)是否正常，控制等效外殼處指示燈，通過(guò)本發(fā)明有效模擬控制類(lèi)電子設(shè)備中印制電路板損壞、線纜拔脫等物理?yè)p傷導(dǎo)致的數(shù)據(jù)傳輸、處理等核心功能失效，且在試驗(yàn)過(guò)程中實(shí)時(shí)展示設(shè)備功能失效情況。