本申請涉及一種元器件失效率預計方法、裝置、計算機設(shè)備及存儲介質(zhì)。所述元器件失效率預計方法在傳統(tǒng)的失效率預計模型基礎(chǔ)上引入了所述多個影響系數(shù)、所述質(zhì)量系數(shù)和所述多個持續(xù)工作時間占比,從而建立所述元器件失效率預計模型。本申請實施例所述元器件失效率預計方法將傳統(tǒng)的元器件失效率預計模型按照所述誘發(fā)應力類型拆分為更為精細的預計步驟,使得所述待測試元器件組的失效率更加符合所述待測試元器件組的實際使用情況。解決了傳統(tǒng)數(shù)理統(tǒng)計預計模型失效率與實際失效率具有較大的預計偏差的技術(shù)問題,達到了達到減小所述預計失效率與實際失效率預計偏差的技術(shù)效果。
聲明:
“元器件失效率預計方法、裝置、計算機設(shè)備及存儲介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)