本發(fā)明提供了一種發(fā)光二極管早期失效的篩選方法，涉及發(fā)光二極管應(yīng)用技術(shù)領(lǐng)域，解決了現(xiàn)有單一試驗(yàn)無(wú)法有效篩選出發(fā)光二極管不良的技術(shù)問(wèn)題。該方法在抽取樣品后進(jìn)行回流焊實(shí)驗(yàn)、波峰焊實(shí)驗(yàn)、高溫實(shí)驗(yàn)、溫度沖擊實(shí)驗(yàn)和高溫水煮實(shí)驗(yàn)中的至少兩項(xiàng)篩選實(shí)驗(yàn)，再檢測(cè)篩選不良品。對(duì)樣品進(jìn)行回流焊實(shí)驗(yàn)、波峰焊實(shí)驗(yàn)、高溫實(shí)驗(yàn)、溫度沖擊實(shí)驗(yàn)和高溫水煮實(shí)驗(yàn)中的至少兩項(xiàng)篩選實(shí)驗(yàn)，與傳統(tǒng)的僅進(jìn)行單一篩選實(shí)驗(yàn)的方法相比，通過(guò)至少兩項(xiàng)篩選實(shí)驗(yàn)使發(fā)光二極管的早期失效問(wèn)題明顯地暴露出來(lái)，以便更有效地篩選出不良品，隱避缺陷也能很好地篩選出，提高發(fā)光二極管重大隱蔽性質(zhì)量缺陷的篩選不良檢出率，提高了電器產(chǎn)品的整體質(zhì)量和可靠性，降低了售后維修率。