本申請公開了一種失效電容定位儀及定位方法,包括:用于承載PCB基板1的PCB板載具2,設置于PCB板載具2上用于支撐第一導向結(jié)構(gòu)3的支架4,第一導向結(jié)構(gòu)3用于實現(xiàn)第二導向結(jié)構(gòu)5移動,第二導向結(jié)構(gòu)5安裝于第一導向結(jié)構(gòu)3上用于為承載加熱裝置6的支架4提供移動能力,支架4設置于第二導向結(jié)構(gòu)5上用于承載加熱裝置6,加熱裝置6用于對PCB基板1上的電容進行加熱,通過第一導向結(jié)構(gòu)3與第二導向結(jié)構(gòu)5使加熱裝置6能夠?qū)蔖CB基板1上任一位置進行加熱。本申請的失效電容定位儀可以承載待檢測的PCB基板1,并且利用支架4、第一導向結(jié)構(gòu)3和第二導向結(jié)構(gòu)5,能夠讓支撐架7上的加熱裝置6移動至任何PCB基板1上所需加熱的地方,提高了檢修效率。
聲明:
“失效電容定位儀及定位方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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