本公開關(guān)于一種觸控
芯片失效處理方法及裝置,屬于觸控技術(shù)領(lǐng)域。所述方法用于包含觸摸屏的終端中,所述觸摸屏包含所述觸控芯片,包括:每隔預(yù)定周期獲取所述觸控芯片的工作參數(shù);根據(jù)所述工作參數(shù)檢測(cè)所述觸控芯片是否失效;當(dāng)根據(jù)所述工作參數(shù)檢測(cè)出所述觸控芯片失效時(shí),對(duì)所述觸控芯片進(jìn)行復(fù)位。本公開可解決通過重啟終端來復(fù)位觸控芯片,使得復(fù)位觸控芯片所需消耗的時(shí)間較多的問題,可達(dá)到提高觸控芯片的復(fù)位效率的效果。
聲明:
“觸控芯片失效處理方法及裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)