本發(fā)明一種制備特定失效點透射電子顯微鏡平面樣品的方法,采用聚焦離子束截取樣品上失效位置附近一塊樣品,通過Pick-Up系統(tǒng)將截取的樣品吸起并豎直放立在硅片表面,用聚焦離子束鍍金的方法將樣品固定在硅片表面后制備成透射顯微鏡平面樣品。本發(fā)明通過聚焦離子束精確截取樣品,省去了人工研磨的過程,大大提高了樣品制備的成功率和樣品的質(zhì)量,對后續(xù)的失效分析和結(jié)構(gòu)分析提供了極大的幫助。
聲明:
“制備特定失效點透射電子顯微鏡平面樣品的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)