本發(fā)明涉及電子器件輻射效應(yīng)領(lǐng)域,特別是涉及一種大氣中子誘發(fā)的電子器件失效率預(yù)計方法和系統(tǒng),通過獲取在試驗環(huán)境下大氣中子誘發(fā)的電子器件的原始失效率;分別獲取所述試驗環(huán)境與目標(biāo)環(huán)境的大氣中子通量;根據(jù)所述試驗環(huán)境和目標(biāo)環(huán)境的大氣中子通量獲取所述試驗環(huán)境與目標(biāo)環(huán)境的大氣中子通量比例因子;根據(jù)所述原始失效率和大氣中子通量比例因子可以獲取到在目標(biāo)環(huán)境下大氣中子誘發(fā)的電子器件的目標(biāo)失效率。獲取過程簡單高效,簡化了大氣中子條件下電子器件的輻射敏感特性分析過程,從而實現(xiàn)對大氣中子條件下電子器件單粒子效應(yīng)敏感性的定量評價,解決我國目前大氣中子條件下電子器件單粒子效應(yīng)評價方法缺失的難題。
聲明:
“大氣中子誘發(fā)的電子器件失效率預(yù)計方法和系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)