本發(fā)明提供了一種隨機硬件失效指標獲取方法、計算機設(shè)備及計算機存儲可讀存儲介質(zhì)。本發(fā)明技術(shù)方案的隨機硬件失效指標獲取方法包括:基于故障樹分析獲取違背安全目標的最小割集集合;獲取第一最小割集集合,所述第一最小割集集合是指最小割集集合中最小割集的基本失效個數(shù)大于等于2且基本失效同時發(fā)生的最小割集的集合;獲取所述第一最小割集集合中每一個最小割集的失效率,所述最小割集的失效率是指所述最小割集中所有基本失效同時發(fā)生的概率;基于所述第一最小割集集合中每一個最小割集的失效率獲取隨機硬件失效指標。本發(fā)明的技術(shù)方案獲取的隨機硬件失效指標準確度高,且獲取隨機硬件失效指標的復(fù)雜度低。
聲明:
“隨機硬件失效指標獲取方法及裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)