本發(fā)明公開了一種電子元器件失效原因定位方法,包括以下步驟:構(gòu)建所述電子元器件的故障樹;利用故障樹到貝葉斯網(wǎng)絡(luò)之間的映射方法,將故障樹映射為貝葉斯網(wǎng)絡(luò);將失效分析案例按照貝葉斯網(wǎng)絡(luò)的節(jié)點(diǎn)進(jìn)行梳理,得到各個節(jié)點(diǎn)的案例統(tǒng)計信息;利用各個節(jié)點(diǎn)的案例統(tǒng)計信息,計算各個節(jié)點(diǎn)對應(yīng)的后驗(yàn)概率;通過所述電子元器件的失效現(xiàn)象找到后驗(yàn)概率最大的節(jié)點(diǎn)對應(yīng)的失效原因。本發(fā)明能夠直觀地得到造成失效現(xiàn)象的各個原因的發(fā)生概率,準(zhǔn)確地對失效現(xiàn)象進(jìn)行原因定位,提高失效分析的效率和準(zhǔn)確性。
聲明:
“電子元器件失效原因定位方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)