本發(fā)明公開(kāi)了一種讀失效存儲(chǔ)單元的替換方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)，接收外部的測(cè)試機(jī)發(fā)送的替換指令和校驗(yàn)數(shù)據(jù)；將目標(biāo)存儲(chǔ)芯片內(nèi)的數(shù)據(jù)與校驗(yàn)數(shù)據(jù)相比較，判斷失效的cell；對(duì)比較得到的失效的cell進(jìn)行分析和判別；執(zhí)行替換指令，依次對(duì)失效的cell進(jìn)行替換。將替換指令執(zhí)行的操作交由存儲(chǔ)芯片主控來(lái)完成，測(cè)試機(jī)在這個(gè)過(guò)程中只需要負(fù)責(zé)發(fā)送校驗(yàn)數(shù)據(jù)和替換指令，以及判斷執(zhí)行結(jié)果和固化替換信息，因此測(cè)試機(jī)在測(cè)試過(guò)程中的計(jì)算量大大減小，相應(yīng)減小了測(cè)試時(shí)間，對(duì)于需要同步測(cè)試多個(gè)存儲(chǔ)芯片的測(cè)試機(jī)來(lái)說(shuō)，測(cè)試方的設(shè)備要求降低。