本發(fā)明屬于失效測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域,涉及一種基于仿真技術(shù)的半導(dǎo)體器件TDDB失效測(cè)試方法。本發(fā)明利用計(jì)算機(jī)軟件對(duì)半導(dǎo)體TDDB進(jìn)行仿真計(jì)算與需要昂貴的測(cè)試設(shè)備、人員、先期測(cè)試準(zhǔn)備以及測(cè)試本身的大量時(shí)間的物理試驗(yàn)測(cè)試相比,基于仿真技術(shù)的測(cè)試方法節(jié)省了大量的時(shí)間和成本。因此在最初的設(shè)計(jì)階段,運(yùn)用計(jì)算機(jī)仿真技術(shù)針對(duì)半導(dǎo)體器件TDDB現(xiàn)象進(jìn)行失效仿真分析,找出其設(shè)計(jì)中的薄弱環(huán)節(jié),對(duì)于提到晶體管的可靠性乃至整個(gè)半導(dǎo)體器件的可靠性都要重要意義。
聲明:
“基于仿真技術(shù)的半導(dǎo)體器件TDDB失效測(cè)試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)