本發(fā)明實施例提供一種CMOS器件的EOS失效率的預測方法和裝置,屬于集成電路技術領域。預測方法包括:確定CMOS器件的基礎EOS失效率;確定在CMOS器件的全部工藝環(huán)節(jié)中影響EOS失效率的影響因子;獲取針對每一影響因子進行EOS失效率評價的評價結果,并基于該評價結果確定示出影響因子對EOS失效率的影響程度的權重值,其中權重值越大表示影響因子對EOS失效率的影響程度越大;基于基礎EOS失效率和各個影響因子對應的權重值,建立針對EOS失效率的預測模型,以得到CMOS器件的EOS失效率的預測值。本發(fā)明從CMOS器件各個工藝環(huán)節(jié)系統(tǒng)性分析,綜合考慮影響其EOS失效率的每個影響因素,所得到的EOS失效率的預測值更為精準,從而能夠對EOS可靠性預測提供準確的預測依據(jù)。
聲明:
“CMOS器件的EOS失效率的預測方法和裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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