本發(fā)明提供一種電子裝置失效測試裝置,包括偵測裝置,所述電子裝置用于:控制該偵測裝置對該電子裝置所處環(huán)境的參數(shù)值進(jìn)行偵測;獲取該偵測裝置偵測到的環(huán)境參數(shù)值;確定該環(huán)境參數(shù)值是否超出預(yù)設(shè)范圍;若是,則對該電子裝置的內(nèi)部元件及運(yùn)行情況進(jìn)行測試,并取得該電子裝置的測試數(shù)據(jù);及將該電子裝置的測試數(shù)據(jù)和該偵測裝置偵測到的環(huán)境參數(shù)值與一失效數(shù)據(jù)庫中的數(shù)據(jù)進(jìn)行比對從而判斷該電子裝置的失效原因,其中,該失效數(shù)據(jù)庫中包括導(dǎo)致電子裝置失效的環(huán)境參數(shù)值、電子裝置失效時(shí)的測試數(shù)據(jù)以及失效原因。本發(fā)明還提供一種測試方法。本發(fā)明能夠自動分析電子裝置失效原因且無需拆機(jī)。
聲明:
“電子裝置失效測試裝置及測試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)