本申請(qǐng)公開(kāi)了一種存儲(chǔ)器
芯片的失效單元檢測(cè)修復(fù)方法,包括:對(duì)存儲(chǔ)器芯片進(jìn)行檢測(cè);若存在失效單元,則獲取所檢測(cè)到的第一失效單元的失效行地址線/失效列地址線;設(shè)置失效行地址線/失效列地址線,使其能夠被識(shí)別為有效行地址線/有效列地址線;對(duì)經(jīng)過(guò)設(shè)置處理后的存儲(chǔ)器芯片進(jìn)行檢測(cè);確定是否還存在其他失效單元;若是則獲取第一失效單元所位于的列地址線/行地址線,利用一列地址冗余線/行地址冗余線替換失效列地址線/失效行地址線,轉(zhuǎn)向?qū)Υ鎯?chǔ)器芯片進(jìn)行檢測(cè);否則利用一行地址冗余線/列地址冗余線替換失效行地址線/失效列地址線。本申請(qǐng)的方法使得對(duì)失效單元的檢測(cè)修復(fù)效率更高,且準(zhǔn)確率更高,耗時(shí)少,降低了工藝時(shí)間成本。
聲明:
“存儲(chǔ)器芯片的失效單元檢測(cè)修復(fù)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)