本發(fā)明提供了一種顯示面板、顯示終端及檢測顯示面板失效的方法,解決了顯示裝置在可靠性驗證過程中,無法判斷導(dǎo)致顯示失效的具體原因的問題。包括:發(fā)光層;失效檢測層,包裹在所述發(fā)光層的表面,構(gòu)造為檢測所述發(fā)光層的失效是否由外部環(huán)境介質(zhì)入侵所導(dǎo)致;以及封裝層,包裹在所述失效檢測層表面,構(gòu)造為保護所述發(fā)光層。
聲明:
“顯示面板、顯示終端及檢測顯示面板失效的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)