一種高效的存儲(chǔ)器失效分析方法,可以實(shí)現(xiàn)對(duì)存儲(chǔ)器單元進(jìn)行可靠性失效分析圖形顯示的可視化分析方法,能夠高效的分析存儲(chǔ)器單元在可靠性評(píng)測(cè)時(shí)出現(xiàn)的物理地址、失效方式等,幫助快速定位產(chǎn)品的存儲(chǔ)器失效原因;本發(fā)明僅提供一種存儲(chǔ)器可靠性失效分析的圖形化方法,并不限于開發(fā)者如何模擬和顯示存儲(chǔ)器的物理地址分配,依靠在圖中顯示出存儲(chǔ)單元失效的位置以及形式,直觀的顯示出失效物理地址及分布。
聲明:
“高效的存儲(chǔ)器失效分析方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)