本發(fā)明屬于鈹?shù)V分析測試技術領域,具體涉及一種原位微區(qū)定量分析鈹含量的方法,采集鈹?shù)V石樣品;鈹?shù)V石樣品制作成探針片或光薄片;識別鈹?shù)V物,并對探針片或光薄片樣品表面熱蒸鍍碳膜;鈹?shù)V物原位微區(qū)定量分析。通過配置針對超輕元素的大尺寸晶面間距的分光晶體,并配備脈沖高度分析器,可以實現(xiàn)鈹?shù)V物的原位微區(qū)定量分析,可對鈹?shù)V物進行微米級別的無損分析,有助于獲取鈹?shù)V物在微區(qū)尺度的成分信息,運用該測試方法技術,沒有復雜的樣品制備過程,具有原位、微區(qū)、無損、實時、操作簡便、靈敏度高等優(yōu)勢。
聲明:
“原位微區(qū)定量分析鈹含量的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)