本發(fā)明公開了一種陶瓷基
復(fù)合材料分層缺陷標(biāo)樣的制備方法,用于解決現(xiàn)有方法制備缺陷標(biāo)樣易變形和尺寸控制難的技術(shù)問題。技術(shù)方案是通過制作帶有聚四氟乙烯缺陷的
碳纖維預(yù)制體,在帶有聚四氟乙烯缺陷的碳纖維預(yù)制體上化學(xué)氣相沉積法(CVD)沉積熱解碳、CVI浸滲碳化硅基體,制備出陶瓷基復(fù)合材料分層缺陷標(biāo)樣。使用該方法制備分層缺陷標(biāo)樣過程不會(huì)產(chǎn)生應(yīng)力使預(yù)置缺陷變形屈曲,預(yù)置缺陷分解不會(huì)導(dǎo)致分層缺陷粘連,而且該方法制備的分層缺陷容易通過無損檢測(cè)來識(shí)別,可評(píng)價(jià)檢測(cè)設(shè)備對(duì)分層缺陷的適用性、靈敏度和精度,缺陷形狀尺寸與所設(shè)計(jì)的缺陷完全吻合,不會(huì)發(fā)生邊緣翹曲的問題。
聲明:
“陶瓷基復(fù)合材料分層缺陷標(biāo)樣的制備方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)