本發(fā)明公開了一種對物體中的成分及其濃度進行探測的方法,其具體步驟為:1)將待測樣品放置在樣品臺上,由激光誘導擊穿光譜儀對物體進行非接觸式無損探測;2)探測時,由旋轉驅動裝置驅動樣品臺作均速圓周運動或者由平移驅動裝置驅動樣品臺作均速平移運動;此時,由激光器產生激光,經過聚焦透鏡聚焦后、自下而上穿過樣品臺上的激光照射孔對待測樣品進行照射;待測樣品的被測表面在激光的照射下產生等離子火花,等離子火花信號經過信號耦合透鏡耦合至光纖光譜儀中,通過分析光纖光譜儀接收到的等離子火花信號就可得到物體中所含的成分及其濃度。本發(fā)明所述對物體中的成分及其濃度進行探測的方法尤其適用于對鍍層、鋁箔等厚度較薄的樣品的探測。
聲明:
“對物體中的成分及其濃度進行探測的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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