本發(fā)明公開了一種非接觸法測量透鏡中心厚的裝置,包括激光干涉儀以及位于所述激光干涉儀正上方的分光鏡,所述激光干涉儀中設(shè)有CCD探測器,所述分光鏡呈45°角設(shè)置,所述激光干涉儀發(fā)射出來的準直光經(jīng)過所述分光鏡后一束經(jīng)過轉(zhuǎn)向裝置進入上部標(biāo)準鏡頭,一束直接進入下部標(biāo)準鏡頭,所述分光鏡與所述上部標(biāo)準鏡頭和下部標(biāo)準鏡頭之間均設(shè)有遮光板,還包括用于放置待測透鏡的調(diào)整平臺和距離測量平臺,所述調(diào)整平臺位于所述上部標(biāo)準鏡頭和下部標(biāo)準鏡頭之間。本發(fā)明還公開了采用上述裝置測量透鏡中心厚度的方法。本發(fā)明非接觸法測量透鏡中心厚的方法不僅實現(xiàn)了非接觸測量,對透鏡無損傷,而且測量范圍大,測量精度高,測量精度能達到1~2um。
聲明:
“非接觸法測量透鏡中心厚的裝置和方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)