本發(fā)明涉及一種根據(jù)土壤表面粗糙度測量土壤表層孔隙率的方法。所述方法包括以下步驟:在土壤表面選擇采樣點,在土壤上方選擇水平面,測量采樣點到水平面的距離,計算土壤表面粗糙度量化指數(shù),計算得到土壤表面孔隙率。該方法與現(xiàn)有技術(shù)相比,具有快速、無損、高精度的優(yōu)點。
聲明:
“測量土壤孔隙率的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)