一種基于光學(xué)剪切的二維光學(xué)應(yīng)變花測(cè)量方法,該測(cè)量方法首先采用熱壓印方法在被測(cè)物體表面制作矩形光學(xué)應(yīng)變花標(biāo)記,在測(cè)量光路中放置四棱鏡,引入光學(xué)剪切量,形成具有剪切量的圖像,根據(jù)數(shù)字相關(guān)方法計(jì)算具有剪切量的圖像中光學(xué)應(yīng)變花的4個(gè)標(biāo)記點(diǎn)的位移,根據(jù)有限元方法計(jì)算應(yīng)變花區(qū)域的應(yīng)變。本發(fā)明有效提高了圖像質(zhì)量,改善了數(shù)字相關(guān)方法的應(yīng)變求解區(qū)域不大的問(wèn)題,可以實(shí)現(xiàn)操作簡(jiǎn)單方便,在復(fù)雜工作環(huán)境下進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)實(shí)時(shí)的高精度大區(qū)域的無(wú)損測(cè)量。
聲明:
“基于光學(xué)剪切的二維光學(xué)應(yīng)變花測(cè)量方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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