本發(fā)明公開了一種集成LCAS仿真及VCG延時(shí)仿真的EOS測試儀,包括:以太網(wǎng)接口,STM-N接口,以太網(wǎng)數(shù)據(jù)產(chǎn)生和檢測模塊,處理單元,所述EOS測試儀還包括虛級聯(lián)組VCG查分延時(shí)與檢測模塊和鏈路調(diào)節(jié)機(jī)制LCAS仿真模塊,其中VCG差分延時(shí)與檢測模塊,用于提取相同同步數(shù)字系列SDH幀中每個(gè)成員的復(fù)幀指示MFI差值,以得到所有成員的差分延時(shí);LCAS仿真模塊,用于控制虛級聯(lián)組VCG鏈路的容量。EOS測試儀可以對每個(gè)VC-X通道進(jìn)行延時(shí)控制,因此接收到的VCG成員都是不同的MFI值,因此可以測試VCG的差分延時(shí);通過LCAS仿真模塊可以無損地增加或減少VCG鏈路的容量,從而滿足上層業(yè)務(wù)對帶寬的需求。
聲明:
“集成LCAS仿真及VCG延時(shí)仿真的EOS測試儀” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)