本發(fā)明公開了一種用于物質(zhì)的太赫茲精細譜探測儀,采用室溫相干太赫茲源和檢測方法,包括發(fā)射支路和接收支路,發(fā)射支路和接收支路均設(shè)計有太赫茲倍頻鏈陣列,通過太赫茲倍頻鏈陣列來產(chǎn)生連續(xù)太赫茲波;太赫茲倍頻鏈陣列根據(jù)實際測量需求設(shè)計有具體的分段數(shù),利用這種太赫茲倍頻鏈陣列可以實現(xiàn)0.1?1.5?THz范圍全覆蓋;因此本發(fā)明,可以測量物質(zhì)的太赫茲精細譜,譜分辨率可達百KHz,比THz?TDS系統(tǒng)提升三個量級;本發(fā)明采用全固態(tài)方式實現(xiàn),易于集成,可靠性高;進一步的,采用自由空間法測量物質(zhì)的透射譜,具有校準方便、對待測樣品無損傷的優(yōu)點。
聲明:
“太赫茲精細譜探測儀” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)