平面波天線零橋斷層成像測試裝置,屬于非金屬材料的無損檢測和斷層成像技術。本發(fā)明的微波部分設計采用E面擴展的窄波束喇叭作下斜饋源,同拋物面反射體組合成一體,簡便地構成平面波照射源;同時由微波零橋環(huán)路抵消強入射波信號。因而可以精確地檢測出目標的微散射場,并直接計算和完成圖像處理。由于該微波測試裝置實現(xiàn)了大口徑天線和強入射波照射,大大提高了系統(tǒng)的分辨力,可實現(xiàn)對較復雜結構的電介材料進行斷層成像。
聲明:
“平面波天線零橋斷層成像測試裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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