一種超聲波同時(shí)測(cè)量涂覆層厚度與內(nèi)界面粗糙度的方法,屬于材料超聲無(wú)損檢測(cè)與評(píng)價(jià)技術(shù)領(lǐng)域。該發(fā)明采用一個(gè)包括試樣臺(tái)、內(nèi)界面粗糙涂覆層試樣、延遲塊探頭、探傷儀、數(shù)字示波器以及計(jì)算機(jī)的超聲脈沖回波檢測(cè)系統(tǒng),針對(duì)無(wú)損表征內(nèi)界面粗糙涂覆層的厚度與粗糙度難題,推導(dǎo)出了內(nèi)界面粗糙涂覆層結(jié)構(gòu)的聲壓反射系數(shù)幅度譜|r(f;Rq, d)|,對(duì)不同頻帶寬度內(nèi)理論與實(shí)驗(yàn)的聲壓反射系數(shù)幅度譜進(jìn)行相關(guān)性運(yùn)算,得到每個(gè)帶寬下相關(guān)系數(shù)最大值ηmax(Rq, d)對(duì)應(yīng)的涂覆層厚度di與粗糙度Rqi,分別對(duì)不同頻率窗內(nèi)測(cè)量的厚度、粗糙度求平均得到與二者即為所求的涂覆層厚度與內(nèi)界面粗糙度。該方法填補(bǔ)了該類涂覆層厚度與粗糙度無(wú)損表征方法的空白。
聲明:
“超聲波同時(shí)測(cè)量涂覆層厚度與內(nèi)界面粗糙度的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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