本發(fā)明涉及用于在相對(duì)于該裝置移動(dòng)的檢驗(yàn)品(13)中無損地并且無接觸地探測(cè)缺陷(23)的裝置,其具有發(fā)送線圈配置(18),該發(fā)送線圈配置具有至少一個(gè)發(fā)送線圈(18),以給該檢驗(yàn)品施加周期交變電磁場(chǎng),其具有接收線圈配置(15),該接收線圈配置具有至少一個(gè)接收線圈(12,14,15),以探測(cè)具有載波振蕩的周期電信號(hào),其中如果由該接收線圈配置探測(cè)到一個(gè)缺陷,那么該載波振蕩的幅度和/或相位就由于該檢驗(yàn)品中的缺陷而被調(diào)制,其具有信號(hào)處理單元,以從接收線圈信號(hào)中產(chǎn)生有用信號(hào);以及具有分析單元(50,60,64),以為了識(shí)別在該檢驗(yàn)品中的缺陷而分析該有用信號(hào)。設(shè)置有自檢單元(62),其構(gòu)造成用于自動(dòng)地或者按照外部要求對(duì)該信號(hào)處理單元的信號(hào)處理功能進(jìn)行系統(tǒng)定量檢驗(yàn),和/或?qū)Πl(fā)送線圈配置(18)和/或接收線圈配置(15)進(jìn)行系統(tǒng)定量檢驗(yàn),和/或按照外部要求借助于代替該發(fā)送線圈配置和/或接收線圈配置設(shè)置的校準(zhǔn)器(96)對(duì)該信號(hào)處理單元進(jìn)行校正。