本發(fā)明提供了一種微波測(cè)試連接器及測(cè)試方法,屬于微波測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域,包括包括SMA接頭、絕緣體和針芯,SMA接頭設(shè)有第一中心孔,SMA接頭的一端設(shè)有外螺紋,另一端設(shè)有彈性接地探針、彈性信號(hào)探針和用于與PCB基板鎖緊鎖緊卡扣,當(dāng)鎖緊卡扣鎖緊時(shí),彈性接地探針和彈性信號(hào)探針受PCB基板擠壓接觸;絕緣體設(shè)置在第一中心孔內(nèi),絕緣體設(shè)有與第一中心孔同軸的第二中心孔;針芯內(nèi)嵌于所述第二中心孔內(nèi),針芯的一端設(shè)有用于連接對(duì)插的SMA接口的第一針槽,另一端設(shè)有用于安裝彈性信號(hào)探針的第二針槽,彈性信號(hào)探針的一端安裝在第二針槽內(nèi)。本發(fā)明提供的微波測(cè)試連接器,可以做到無(wú)損傷測(cè)試,能夠縮短測(cè)試時(shí)間,提高測(cè)試的準(zhǔn)確性。
聲明:
“微波測(cè)試連接器及測(cè)試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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