公開了一種揚聲器T/S參數(shù)測試方法和測試裝置,通過設(shè)置具有密封功能的測試裝置,分別測試密封前揚聲器的電聲參數(shù)組和密封后揚聲器的阻抗曲線,然后分別提取電聲參數(shù)組和密封后揚聲器的阻抗曲線的特征參數(shù)并根據(jù)聲學(xué)系統(tǒng)設(shè)備的標(biāo)準(zhǔn)公式計算獲取揚聲器的T/S參數(shù),從而實現(xiàn)了在揚聲器無損情況下,快速對揚聲器單體或揚聲器模組進(jìn)行在線測試獲取T/S參數(shù)。縮短了測試時間,提高了效率。
聲明:
“揚聲器T/S參數(shù)測試方法和測試裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)