本發(fā)明公開一種集成電路測試負載板與測試設(shè)備輔助插拔機構(gòu),包括外箱、檢測機構(gòu)、輸送機構(gòu)和收納機構(gòu);所述檢測機構(gòu)設(shè)置在所述外箱的內(nèi)部,所述輸送機構(gòu)貫穿設(shè)置于所述外箱的內(nèi)部和外部,所述收納機構(gòu)插設(shè)在所述外箱的內(nèi)部;本發(fā)明,通過設(shè)置檢測機構(gòu),使本裝置可以連續(xù)不停息的對集成電路進行無損檢測,解決了現(xiàn)有技術(shù)中對集成電路檢測不夠高效的問題;通過設(shè)置輸送機構(gòu),使工作人員不需要用力就可以將集成電路放置到本裝置上,能夠防止工作人員由于手法問題對集成電路造成破壞,并且當(dāng)檢測到集成電路不合格時,控制器會控制伸縮板收縮,使不合格的集成電路自動落出,方便了檢測過程,降低了不合格出廠率。
聲明:
“集成電路測試負載板與測試設(shè)備輔助插拔機構(gòu)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)