本發(fā)明涉及一種用于對電子器件進行缺陷檢查的方法,所述方法具有以下步驟:通過自動光學(xué)檢查對生產(chǎn)線中的電子器件進行檢查;確定無法用自動光學(xué)檢查進行檢查的區(qū)域的坐標;將所述區(qū)域的坐標從生產(chǎn)線傳輸給計算機;將電子器件從生產(chǎn)線轉(zhuǎn)移到用于無損材料檢測的X射線裝置中,所述X射線裝置設(shè)置在生產(chǎn)線之外;將所述區(qū)域的坐標由計算機傳輸給X射線裝置;僅在不能利用自動光學(xué)檢查進行檢查的區(qū)域中,通過X射線裝置進行檢查;將在X射線裝置中進行的檢查的結(jié)果傳輸給計算機;如果結(jié)果是電子器件沒有缺陷,則將所述電子器件回送到生產(chǎn)線中。
聲明:
“用于檢查電子器件的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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