本發(fā)明公開了一種基于圖像熵和遞歸分析的超聲圖像缺陷檢測方法,屬于超聲波無損檢測技術(shù)領(lǐng)域。該方法包括:1、對同一工件或同一批相同工件進行線性陣列相控陣超聲掃描,連續(xù)采集到多幅B掃描圖像;2、對采集到的B掃描圖像進行灰度化和中值濾波預處理;3、計算預處理后B掃描圖像的圖像熵,得到B掃描圖像熵序列;4、計算并選擇圖像熵序列的時間延遲和嵌入維數(shù),將其作為遞歸分析所用的參數(shù);5、根據(jù)選取的參數(shù)對圖像熵序列進行遞歸分析,得到序列的遞歸圖,根據(jù)遞歸圖判斷采集的圖像中是否存在含有缺陷的B掃描圖像。本發(fā)明可以有效識別多幅B掃描圖像中的缺陷,不需要進行圖像截取分割操作,存儲數(shù)據(jù)量小,識別效率高,適用性強。
聲明:
“基于圖像熵和遞歸分析的超聲圖像缺陷檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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