本發(fā)明屬于無損檢測領域,公開了一種陣列渦流與相控陣超聲復合的檢測探頭,包括外殼;外殼的一側內壁上設置由兩排相互錯開的渦流線圈組成的渦流線圈陣列;各渦流線圈上均設置第一導線,第一導線一端與渦流線圈連接,另一端與外殼外壁上設置的多路復用器連接;渦流線圈陣列的一側設置若干第一壓電晶片,若干第一壓電晶片線陣列縱向排布或線陣列橫向排布;各第一壓電晶片上均設置第二導線,第二導線一端與第一壓電晶片的正極連接,另一端與外殼外壁上設置的第一接口連接。通過將陣列渦流探頭與相控陣超聲探頭集成在同一探頭上,只需一次檢測就可實現表面、近表面缺陷和內部缺陷的檢測,實現了較高的表面、近表面分辨力。
聲明:
“陣列渦流與相控陣超聲復合的檢測探頭” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)