本發(fā)明公開了一種蘋果表面損傷檢測(cè)裝置及方法。該裝置包括底座，底座上豎直設(shè)有導(dǎo)軌，導(dǎo)軌上設(shè)有可沿導(dǎo)軌滑動(dòng)的第一滑塊、第二滑塊、用于驅(qū)動(dòng)第一滑塊沿導(dǎo)軌滑動(dòng)的第一驅(qū)動(dòng)模塊、用于驅(qū)動(dòng)第二滑塊沿導(dǎo)軌滑動(dòng)的第二驅(qū)動(dòng)模塊，第二滑塊位于第一滑塊上方，所述第一滑塊連接有樣品平臺(tái)，第二滑塊連接有環(huán)形滑軌，環(huán)形滑軌上設(shè)有檢測(cè)模塊，檢測(cè)模塊包括可沿環(huán)形滑軌滑動(dòng)的第三滑塊、用于驅(qū)動(dòng)第三滑塊沿環(huán)形滑軌滑動(dòng)的第三驅(qū)動(dòng)模塊，第三滑塊上設(shè)有激光發(fā)射器、感光纖維探頭，底座上還設(shè)有控制器、激光驅(qū)動(dòng)器和光譜儀。本發(fā)明能夠無(wú)損、準(zhǔn)確的檢測(cè)出蘋果表面的待測(cè)區(qū)域是否有損傷。