IGBT低頻噪聲檢測(cè)裝置，涉及電子測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域，解決現(xiàn)有電子器件可靠性檢測(cè)中對(duì)器件的損傷問(wèn)題，整體系統(tǒng)包含硬件測(cè)試系統(tǒng)和軟件分析平臺(tái)兩個(gè)部分。硬件系統(tǒng)包含電源系統(tǒng)、低噪聲偏置電路、低噪聲前置放大器及高速數(shù)據(jù)采集卡四個(gè)部分模塊；軟件分析平臺(tái)分為時(shí)域分析模塊、頻域分析模塊、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)模塊、數(shù)據(jù)讀取模塊、信號(hào)采集模塊和報(bào)告生成模塊。其中的硬件系統(tǒng)主要完成IGBT漏極電壓噪聲的測(cè)量，軟件平臺(tái)主要完成低頻噪聲數(shù)據(jù)的時(shí)間序列的顯示，并對(duì)高速數(shù)據(jù)采集卡得到的噪聲數(shù)據(jù)完成頻譜分析，最終實(shí)現(xiàn)IGBT器件的低頻噪聲的檢測(cè)。本發(fā)明可避免傳統(tǒng)電子器件可靠性檢測(cè)中對(duì)器件噪聲的不可逆損傷，實(shí)現(xiàn)對(duì)IGBT低頻噪聲的無(wú)損檢測(cè)。