本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N基于太赫茲?rùn)z測(cè)的絕緣材料評(píng)估方法，獲取待測(cè)絕緣材料的時(shí)域光譜曲線(xiàn)和待測(cè)特征峰值；調(diào)取所述被檢測(cè)絕緣材料的正常時(shí)域光譜曲線(xiàn)圖和正常特征峰值；通過(guò)待測(cè)特征峰值與正常特征峰值之差獲得特征峰值偏離值；在所述特征峰值偏離大于正常特征峰值的百分之十時(shí)，獲取多個(gè)角度成像的靜態(tài)圖像并得到灰度值分布；隨機(jī)選取多個(gè)微小區(qū)域，以及每個(gè)所述區(qū)域的灰度平均值；計(jì)算多個(gè)灰度平均值的平均值和方差；若方差大于等于預(yù)設(shè)值時(shí)，待測(cè)絕緣材料已發(fā)生區(qū)域老化；若方差小于所述預(yù)設(shè)值時(shí)，待測(cè)絕緣材料整體老化；通過(guò)絕緣材料的太赫茲圖像和時(shí)域光譜，判定絕緣材料的老化區(qū)域，是局部還是整體老化，無(wú)需破壞材料本體的一種無(wú)損檢測(cè)方法。