本發(fā)明公開了一種應變片外觀缺損檢測方法,采集應變片圖像,對圖像進行預處理,得出預處理后的應變片圖像;并提取其中的應變片感興趣區(qū)域;對應變片感興趣區(qū)域進行預檢測,分割出絲柵頭,并得到絲柵頭的坐標信息及數(shù)量信息,若預檢測的應變片的絲柵頭數(shù)量與標準無損的應變片絲柵頭的數(shù)量相同,則繼續(xù)檢測,否則,返回產(chǎn)品為不合格品并保存;根據(jù)絲柵頭坐標信息及應變片尺寸設(shè)計信息,得出去除了絲柵區(qū)的圖像,并通過去除了絲柵區(qū)的圖像,分割得到焊接區(qū)圖像;對得到的絲柵區(qū)域圖像和焊接區(qū)圖像進行缺損檢測,并根據(jù)檢測結(jié)果判定應變片為合格品或不合格品;本發(fā)明解決了目前企業(yè)中對應變片缺損檢測的成本高、效率低、檢測結(jié)果不穩(wěn)定的問題。
聲明:
“應變片外觀缺損檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)