本發(fā)明公開一種基于相移偏折術(shù)的高反射物體表面缺陷檢測(cè)方法,其包括:S1、根據(jù)測(cè)量系統(tǒng)的幾何物理模型搭建測(cè)量系統(tǒng)。S2、利用工控機(jī)編碼生成正弦條紋圖,經(jīng)顯示器屏幕投影到待測(cè)物體表面,利用相機(jī)采集被測(cè)物體表面調(diào)制之后的圖像。S3、分割出待測(cè)零件的感興趣的區(qū)域,將待測(cè)區(qū)域的定位與截取。S4、對(duì)圖像進(jìn)行相位提取和相位展開,得到擬合面形實(shí)現(xiàn)鏡面三維物體形貌的測(cè)量與重建。本發(fā)明是一種高速無(wú)損可檢測(cè)高反射物體表面缺陷的檢測(cè)方法。
聲明:
“基于相移偏折術(shù)的高反射物體表面缺陷檢測(cè)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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