一種涂層檢測(cè)方法、裝置以及計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì),其中涂層檢測(cè)方法包括:向待測(cè)涂層發(fā)送檢測(cè)超聲波;接收所述待測(cè)涂層反饋的樣本超聲波;根據(jù)所述樣本超聲波生成所述樣本超聲波的衰減曲線;將所述樣本超聲波的衰減曲線與預(yù)設(shè)的標(biāo)準(zhǔn)曲線偏差范圍進(jìn)行對(duì)比,判斷所述待測(cè)涂層是否合格。采用上述方案,避免了對(duì)涂層的損耗,實(shí)現(xiàn)無(wú)損檢測(cè)涂層狀態(tài)。
聲明:
“涂層檢測(cè)方法、裝置以及計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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