本發(fā)明屬于電磁無(wú)損檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,涉及雙頻陣列渦流探頭及深裂紋混頻檢測(cè)信號(hào)提取技術(shù)。本發(fā)明探頭包括激勵(lì)元件、檢測(cè)元件和矩形安裝槽(8);所述矩形安裝槽(8)上設(shè)置有安裝槽頂蓋(9);所述激勵(lì)元件包括大激勵(lì)線圈(1)、小激勵(lì)線圈(2)和內(nèi)固定骨架(3);所述小激勵(lì)線圈(2)繞在內(nèi)固定骨架(3)上,大激勵(lì)線圈(1)繞在小激勵(lì)線圈(2)上;所述檢測(cè)元件包括檢測(cè)線圈(4)、屏蔽罩外筒(5)、屏蔽罩頂蓋(6)和繞線柱(7);所述繞線柱(7)安裝在矩形安裝槽(8)槽底上,所述檢測(cè)線圈(4)套在繞線柱(7)上,并位于磁場(chǎng)屏蔽罩外筒(5)和屏蔽罩頂蓋(6)構(gòu)成的屏蔽外殼內(nèi)。本發(fā)明探頭探測(cè)深度大,檢測(cè)效率高。
聲明:
“雙頻陣列渦流探頭及深裂紋混頻檢測(cè)信號(hào)提取技術(shù)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)