本發(fā)明公開了一種自由曲面檢測系統及方法,其涉及光學面檢測技術領域。旨在解決現有透明光學產品采用有損檢測方式只能抽樣檢測,不能全檢,而且成本高,效率低的問題。其技術方案要點包括光源發(fā)射端和光源接收端,以及用于承載產品的容器;所述容器內設置有液體,且其內底壁設置有吸光裝置。本發(fā)明屬于無損處理檢測,檢測完成后透明光學產品還可以繼續(xù)使用,可以對產品進行抽樣檢測或者全檢測,而且成本低,效率高。
聲明:
“自由曲面檢測系統及方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)