本發(fā)明涉及用于微波
芯片全頻段信號(hào)質(zhì)量檢測(cè)的裝置、系統(tǒng)及方法,屬于芯片測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域,解決微波芯片的無損檢測(cè)問題,裝置包括測(cè)試裝具、微波輸入端口、微波輸出端口和控制單元;測(cè)試裝具用于無損安裝待測(cè)微波芯片;微波輸入端口外接微波信號(hào)源,用于為所述待測(cè)微波芯片提供基準(zhǔn)信號(hào)源;微波輸出端口外接頻譜分析儀,用于將所述待測(cè)微波芯片產(chǎn)生的微波信號(hào)輸出到頻譜分析儀進(jìn)行信號(hào)分析;控制單元包括至少一個(gè)控制輸入端口,用于接收控制指令,產(chǎn)生覆蓋微波芯片全頻段的頻率控制字,控制所述待測(cè)微波芯片的輸出相應(yīng)頻率的微波信號(hào)。本發(fā)明制造成本低、結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單;測(cè)試過程簡(jiǎn)單、便捷,適用于批量測(cè)試。
聲明:
“用于微波芯片全頻段信號(hào)質(zhì)量檢測(cè)的裝置、系統(tǒng)及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)