本發(fā)明提供一種基于太赫茲技術(shù)的涂層緊貼型無黏結(jié)缺陷檢測(cè)方法及系統(tǒng),屬于無損檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。該方法包括:制備涂層標(biāo)準(zhǔn)試件,涂層標(biāo)準(zhǔn)試件同時(shí)包括緊貼型無黏結(jié)區(qū)和黏好區(qū);涂層標(biāo)準(zhǔn)試件包括涂層和強(qiáng)反射基體層;將太赫茲波射向待檢測(cè)物的涂層后,返回原始回波信號(hào);對(duì)原始回波信號(hào)進(jìn)行預(yù)處理,得到預(yù)處理后的回波信號(hào);預(yù)處理包括有效信號(hào)截取和相位對(duì)齊;基于主成分分析法對(duì)預(yù)處理后的回波信號(hào)進(jìn)行降維,獲取待檢測(cè)物的特征參數(shù);根據(jù)待檢測(cè)物的特征參數(shù),使用支持向量機(jī)模型對(duì)待檢測(cè)物進(jìn)行分類,將待檢測(cè)物的類別劃分為緊貼型無黏結(jié)區(qū)和黏好區(qū)。本發(fā)明實(shí)現(xiàn)精確地區(qū)分緊貼型無黏結(jié)區(qū)和黏好區(qū),對(duì)待檢測(cè)物進(jìn)行無損檢測(cè),且抗干擾能力強(qiáng)。
聲明:
“基于太赫茲技術(shù)的涂層緊貼型無黏結(jié)缺陷檢測(cè)方法及系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)