本發(fā)明公開了一種超導(dǎo)基帶表面缺陷檢測系統(tǒng),包括,光源,其輸出激光并照射至超導(dǎo)基帶的待檢測表面;圖像采集單元,其連續(xù)采集激光被待檢測表面反射后的反射光圖像;圖像處理單元,其接收圖像采集單元輸出的反射光圖像,對所述反射光圖像進(jìn)行處理,輸出超導(dǎo)基帶的表面缺陷程度。本發(fā)明的超導(dǎo)基帶表面缺陷檢測系統(tǒng),用于超導(dǎo)基帶拋光前后對其進(jìn)行表面缺陷程度的非接觸式無損傷、在線、長距離、連續(xù)檢測,為下道生產(chǎn)工藝提供可靠的基帶表面質(zhì)量報告,提高生產(chǎn)高溫超導(dǎo)帶材的合格率;同時,還可以用于確定原帶質(zhì)量對拋光效果的影響。
聲明:
“超導(dǎo)基帶表面缺陷檢測系統(tǒng)及其檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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