用于無(wú)損字畫(huà)分析的微等離子體探針質(zhì)譜成像方法及裝置涉及到中國(guó)字畫(huà)分析測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域。其特征在于,是利用高壓交流電源對(duì)經(jīng)過(guò)石英毛細(xì)管的工作氣體放電,使工作氣體形成含有亞穩(wěn)態(tài)離子的低溫等離子體,在大氣壓條件下,對(duì)待測(cè)樣品表面的化學(xué)成分直接解吸附并離子化;同時(shí),在樣品離子化區(qū)域放置質(zhì)譜采樣裝置,對(duì)產(chǎn)生的離子進(jìn)行逐行逐列采樣,將采樣數(shù)據(jù)輸入質(zhì)譜成像軟件,得到樣品中不同質(zhì)荷比的離子質(zhì)譜圖。本發(fā)明在常壓下進(jìn)行,對(duì)于樣品體積、形狀及厚度不會(huì)限制,操作時(shí)不需要溶劑,避免了樣品污染和破環(huán)。該裝置還具有體積小,放電功率低,結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單及操作方便等優(yōu)點(diǎn)。
聲明:
“用于無(wú)損字畫(huà)分析的微等離子體探針質(zhì)譜成像方法及裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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