本發(fā)明涉及一種高精度光折變晶體干涉無損探傷設(shè)備,包括:分束鏡布置在激光器的出射端,且其具有兩個出射端;振鏡布置在分束鏡的其中一個出射端;1/2波片布置在分束鏡的另一個出射端;偏振分光鏡布置在1/2波片的出射端;第一1/4波片布置在偏振分光鏡的出射端;第一場鏡布置在第一1/4波片的出射端;光折變晶體布置在偏振分光鏡的出射端;反光器件布置在偏振分光鏡的出射端;第二1/4波片布置在反光器件的出射端與光折變晶體的入射端之間;光電探測器布置在光折變晶體的出射端;信號處理器分別與激光器、振鏡和光電探測器電連接。有益效果是:激光激勵和激光干涉儀用同一個光源;設(shè)備靈敏度高;能測量粗糙平面的振動信號。
聲明:
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