本發(fā)明提供了一種無(wú)損探測(cè)
石墨烯點(diǎn)缺陷方法,所述方法將石墨烯利用化學(xué)氣相沉積等方法覆蓋在金屬箔片表面,高溫條件下含氧氛圍中緩慢烘烤,使得缺陷下的銅被氧化,從而在光學(xué)顯微鏡下即可看到不同襯度。本發(fā)明提出的方法,通過(guò)非常簡(jiǎn)單的操作,在光學(xué)顯微鏡下即可觀測(cè)到石墨烯中的點(diǎn)缺陷。
聲明:
“無(wú)損探測(cè)石墨烯點(diǎn)缺陷的方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專(zhuān)利(論文)的發(fā)明人(作者)