本發(fā)明公開了一種短波長特征X射線內(nèi)部殘余應(yīng)力無損測試方法,X射線源和探測器分布在樣品的兩側(cè),光路為透射式,在測量時(shí),通過轉(zhuǎn)動(dòng)歐拉環(huán)以改變?chǔ)方?,測試不同Ψ角下的衍射角2θ,通過擬合衍射角2θ?sin
2Ψ值計(jì)算得到測試樣品內(nèi)部的殘余應(yīng)力,測試時(shí)試樣轉(zhuǎn)動(dòng)平面與探測器轉(zhuǎn)動(dòng)平面相互垂直。
聲明:
“短波長特征X射線內(nèi)部殘余應(yīng)力無損測試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)