本發(fā)明公開了一種三維模型采動裂隙發(fā)育特征無損探測方法,屬探測技術(shù)領(lǐng)域。該方法利用等離子體的導(dǎo)電性和流動性,將等離子體充入三維模型開采后的裂隙當(dāng)中,提高模型中裂隙巖層的導(dǎo)電性,解決了電法探測由于高阻屏蔽導(dǎo)致的裂隙發(fā)育程度探測精度不高的問題,提高了電法探測的準(zhǔn)確性和高效性。該方法包括4個步驟:三維模型建立及導(dǎo)管鋪設(shè)、電極測線布置、等離子體充填、開采和數(shù)據(jù)采集。本發(fā)明可實現(xiàn)采動裂隙發(fā)育特征的三維探測,具有探測范圍廣、準(zhǔn)確性高,有效提高探測效率等優(yōu)點。
聲明:
“三維模型采動裂隙發(fā)育特征無損探測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)